Gliwice, 22 i 23 listopada 2004 roku

Sympozjum jest organizowane w cyklu 3-letnim przez Instytut Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Politechniki Śląskiej pod patronatem Komisji Metrologii Polskiej Akademii Nauk, oddziału w Katowicach. Tradycyjnie sesje Sympozjum odbywają się w sali posiedzeń Rady Wydziału Elektrycznego. Każdy z referujących ma do dyspozycji 30 minut na prezentację łącznie z dyskusją. W każdej sesji przedstawiane są 3 referaty, a przerwy między kolejnymi sesjami trwają pół godziny. Daje to uczestnikom możliwość wyczerpującej prezentacji przygotowanego materiału, co stwarza podstawy wnikliwej dyskusji, która może być kontynuowana w przerwach między sesjami.

W tegorocznej edycji Sympozjum wzięło udział 45 uczestników reprezentujących środowiska akademickie z całej Polski, przedstawiciele przemysłu oraz Wojskowego Nadzoru Metrologicznego. Politechnikę Śląską reprezentowali pracownicy Wydziału Elektrycznego oraz Instytutu Automatyki Wydziału Automatyki, Elektroniki i Informatyki. Zaprezentowano 24 prace, które po recenzjach zostaną wydrukowane w specjalnym numerze Zeszytów Naukowych Politechniki Śląskiej z serii Elektryka poświęconym Sympozjum.

Tematyka Sympozjum związana jest ogólnie z zagadnieniami dotyczącymi analizy i opisu metrologicznych właściwości przyrządów i systemów pomiarowych w sytuacjach, w których wykorzystywane są różnego rodzaju rozwiązania programowe mające na celu poprawienie tych właściwości lub gdy stosowane są środki programowe wpływające pośrednio lub bezpośrednio na tego rodzaju właściwości. W tym roku tematyka ta była prezentowana bardzo szeroko. Przedstawiono prace dotyczące problematyki budowy modeli systemów pomiarowo-sterujących, analizy struktur tego rodzaju systemów i opisu niedokładności wyników pomiarowych uzyskiwanych przy ich użyciu. Szereg prac dotyczyło przyrządów wirtualnych rozpatrywanych pod kątem ich stosowania w systemach pomiarowo-sterujących oraz dydaktycznych systemach pomiarowych. Przedstawiono systemy opracowywane dla celów aplikacji przemysłowych. Duża grupa prac była związana z opracowywaniem nowych algorytmów przetwarzania danych pomiarowych oraz ich wykorzystaniem w przyrządach pomiarowych. Tradycyjnie silnie były reprezentowane zagadnienia dotyczące analizy metrologicznej i budowania modeli błędu różnego rodzaju narzędzi pomiarowych wykorzystujących środki programowe. Problematyka ta w dużym stopniu dotyczyła zagadnień opisu dynamicznych właściwości narzędzi pomiarowych, tworzenia wielowymiarowych modeli procesu pomiaru i użycia niekonwencjonalnych środków do realizacji zadań pomiarowych, takich jak sieci neuronowe oraz logika rozmyta. Obok zagadnień o silnych aspektach praktycznych reprezentowane były również prace podstawowe z zakresu teorii pomiaru. Bogata tematyka, przyjęty sposób organizacji sesji oraz wysoki poziom prezentacji zyskały uznanie uczestników Sympozjum.

Przewodniczący Sympozjum

prof. dr hab. inż. Jerzy Jakubiec